光老化測(cè)試通常集中在塑料、油漆和涂料等材料上，但電子產(chǎn)品也經(jīng)常受到陽光、熱量和潮濕的破壞。

       這次免費(fèi)的網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)中，Q-Lab的技術(shù)團(tuán)隊(duì)將介紹國際電工委員會(huì)（IEC）采用的測(cè)試電子產(chǎn)品常見方法，特別是IEC60068-2-5（太陽輻射測(cè)試和光老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）。

       日期：2021年6月23日（周三）

       時(shí)間：上午10:00

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研討會(huì)安排：

       •電子測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的背景

       •測(cè)試條件和參數(shù)

       •樣品安裝指南

       •關(guān)鍵測(cè)試"定制"流程，用于滿足電子行業(yè)規(guī)范

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